electron microscope 예문

예문

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1. To enable and improve the imaging of samples in the electron microscope they need to be conductive.
   전자현미경에서 시료를 영상화 하고 결과를 향상시키기 위해서, 시료가 전도성이 있어야 한다.
2. Cost-effective testing solutions for semiconductor, from design to manufacturing. Learn about our parametric analyzer, electron microscope and EDA modelling software products.
   설계부터 제조까지 비용 효율적인 키사이트 반도체 테스트 솔루션으로, 파라메트릭 분석기, 전자 현미경 및 EDA 모델링 소프트웨어 제품에 대해 알아보십시오.
3. Crytur is the global leader in scintillation-based detectors for electron microscopy and provides product supply, service and development to the leading manufacturers of electron microscopes worldwide.
   Crytur는 전자 현미경 검사용 섬광 기반 검출기를 제조하는 세계적인 전문업체로서, 전세계의 주요 전자 현미경 제조사들을 대상으로 제품 공급, 서비스 및 개발을 제공합니다.
4. QUANTAX Micro-XRF with the XTrace micro-spot X-ray source adds the capabilities of a complete micro-XRF spectrometer to a scanning electron microscope. XTrace fits on a free inclined chamber port of almost any SEM.
   XTrace 마이크로 spot X-레이 소스를 지원하는 QUANTAX Micro-XRF는 완전한 마이크로-XRF 분광계의 기능을 주사 전자현미경에 추가합니다. XTrace는 거의 모든 SEM의 자유 경사 챔버 포트에 잘 맞습니다.
5. SEM is the short name of Scanning Electron Microscope, and its picture is taken from enlarged image of SEM, which is an enlarged photograph of a scanning electron microscope scan image.
   SEM은 주사 전자 현미경의 약칭으로, 주사 전자 현미경 스캔 이미지의 확대 사진 인 SEM의 확대 이미지에서 사진을 찍습니다. 스캐닝 전자 현미경 검사법은 간단하고 얇은 시트로 절단 할 필요가 없습니다.